型號: | IP3266 |
廠 商: | 中國 |
品牌/商標: | 英集芯 |
產(chǎn)品類別: | 英集芯/injoinic- 其他芯片 |
聯(lián)系人: | 顏先生/William |
電話: | 0755-82170220,21001680 |
IP3266 電子元器件 INJOINIC/英集芯 封裝TSSOP24 5-10 節(jié)電池保護 IC
簡介
IP3266 系列內(nèi)置高精度電壓檢測電路和延遲 電路,是用于 5-10 節(jié)串聯(lián)鋰離子、聚合物和磷酸鐵 鋰可充電電池保護的 IC。IP3266 內(nèi)置高精度檢測電 路,支持過壓、欠壓、三段過放電流保護、充電過 流保護、斷線檢測保護功能。IP3266 內(nèi)置充放電 NTC 檢測電路,對電池進行高低溫保護。
特性
高精度電壓檢測保護*1
過充檢測電壓 VCU:
3.6V ~ 4.0V, step 50mV
4.0V ~ 4.575V, step 25mV
精度:±25mV
過充恢復電壓 VCL:
3.45V ~ 3.85V, step 100mV
3.85V ~ 4.40V, step 50mV
精度:±50mV
過放檢測電壓 VDL:
1.8V ~ 2.1V, step 50mV
2.1V ~ 3.0V, step 100mV
精度:±80mV
過放恢復電壓 VDR:
2.0V ~ 3.1V, step 100mV
精度:±100mV
三段過電流檢測功能
過電流檢測電壓 1:
0.03V ~ 0.34V,step 10mV
精度:±10mV
過電流檢測電壓 2:
0.06V ~ 0.68V, step 20mV
精度:±20mV
短路檢測電壓:
0.6V~1.2V@0.2V/Step,精度:±0.05V
通過外接電容可設(shè)置過充電檢測延遲時間、過
放電檢測延遲時間和過流檢測延遲時間 1
可省 CCT/CDT 電容,通過芯片內(nèi)部設(shè)置過充
和過放延遲時間
充電過流保護功能
檢測電壓:0.03V ~ 0.34V,step 10mV
精度:±10mV
支持充電和放電 NTC 高低溫保護
斷線檢測功能
超低功耗:
工作模式:25μA
休眠模式:6.0μA
封裝:TSSOP24
應用
鋰離子可充電電池組
聚合物可充電電池組
磷酸鐵鋰可充電電池組