產(chǎn)品詳情

IP3266 電子元器件 INJOINIC/英集芯 封裝TSSOP24   5-10 節(jié)電池保護(hù) IC

簡(jiǎn)介

IP3266 系列內(nèi)置高精度電壓檢測(cè)電路和延遲 電路，是用于 5-10 節(jié)串聯(lián)鋰離子、聚合物和磷酸鐵 鋰可充電電池保護(hù)的 IC。IP3266 內(nèi)置高精度檢測(cè)電 路，支持過(guò)壓、欠壓、三段過(guò)放電流保護(hù)、充電過(guò) 流保護(hù)、斷線檢測(cè)保護(hù)功能。IP3266 內(nèi)置充放電 NTC 檢測(cè)電路，對(duì)電池進(jìn)行高低溫保護(hù)。

特性
高精度電壓檢測(cè)保護(hù)*1
過(guò)充檢測(cè)電壓 VCU：
3.6V ~ 4.0V， step 50mV
4.0V ~ 4.575V， step 25mV
精度：±25mV
過(guò)充恢復(fù)電壓 VCL：
3.45V ~ 3.85V， step 100mV
3.85V ~ 4.40V， step 50mV
精度：±50mV
過(guò)放檢測(cè)電壓 VDL：
1.8V ~ 2.1V， step 50mV
2.1V ~ 3.0V， step 100mV
精度：±80mV
過(guò)放恢復(fù)電壓 VDR：
2.0V ~ 3.1V， step 100mV
精度：±100mV
三段過(guò)電流檢測(cè)功能
過(guò)電流檢測(cè)電壓 1：
0.03V ~ 0.34V，step 10mV
精度：±10mV
過(guò)電流檢測(cè)電壓 2：
0.06V ~ 0.68V， step 20mV
精度：±20mV
短路檢測(cè)電壓：
0.6V~1.2V@0.2V/Step，精度：±0.05V
通過(guò)外接電容可設(shè)置過(guò)充電檢測(cè)延遲時(shí)間、過(guò)
放電檢測(cè)延遲時(shí)間和過(guò)流檢測(cè)延遲時(shí)間 1
可省 CCT/CDT 電容，通過(guò)芯片內(nèi)部設(shè)置過(guò)充
和過(guò)放延遲時(shí)間
充電過(guò)流保護(hù)功能
檢測(cè)電壓：0.03V ~ 0.34V，step 10mV
精度：±10mV
支持充電和放電 NTC 高低溫保護(hù)
斷線檢測(cè)功能
超低功耗：
工作模式：25μA
休眠模式：6.0μA
封裝：TSSOP24 

應(yīng)用
鋰離子可充電電池組
聚合物可充電電池組
磷酸鐵鋰可充電電池組