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IP3267 電子元器件 INJOINIC/英集芯 封裝TSSOP28  5-10 節(jié)電池保護(hù) IC 鋰電保護(hù)芯片

簡介

IP3267 系列內(nèi)置高精度電壓檢測電路和延遲 電路，是用于 5-10 節(jié)串聯(lián)鋰離子、聚合物和磷酸鐵 鋰可充電電池保護(hù)的 IC。IP3267 內(nèi)置高精度檢測電 路，支持過壓、欠壓、三段過放電流保護(hù)、充電過 流保護(hù)、斷線檢測保護(hù)和電池均衡功能。內(nèi)置均衡 電路，不需要任何外圍元件即可實(shí)現(xiàn)電池充放電均 衡，并且還可以外擴(kuò) MOS 管增大均衡電流。IP3267 內(nèi)置充放電 NTC 檢測電路，對(duì)電池進(jìn)行高低溫保護(hù)。

特性
高精度電壓檢測保護(hù)*1
過充檢測電壓 VCU：
3.6V ~ 4.0V， step 50mV
4.0V ~ 4.575V， step 25mV
精度：±25mV
過充恢復(fù)電壓 VCL：
3.45V ~ 3.85V， step 100mV
3.85V ~ 4.40V， step 50mV
精度：±50mV
過放檢測電壓 VDL：
1.8V ~ 2.1V， step 50mV
2.1V ~ 3.0V， step 100mV
精度：±80mV
過放恢復(fù)電壓 VDR：
2.0V ~ 3.1V， step 100mV
精度：±100mV
三段過電流檢測功能
過電流檢測電壓 1：
0.03V ~ 0.34V，step 10mV
精度：±10mV
過電流檢測電壓 2：
0.06V ~ 0.68V， step 20mV
精度：±20mV
短路檢測電壓：
0.6V~1.2V@0.2V/Step，精度：±0.05V
通過外接電容可設(shè)置過充電檢測延遲時(shí)間、過
放電檢測延遲時(shí)間和過流檢測延遲時(shí)間 1
可省 CCT/CDT 電容，通過芯片內(nèi)部設(shè)置過充
和過放延遲時(shí)間
充電過流保護(hù)功能
檢測電壓：0.03V ~ 0.34V，step 10mV
精度：±10mV
內(nèi)置均衡功能
支持充電均衡和充放電均衡
支持外擴(kuò) MOS 管增大均衡電流
均衡開啟電壓
3.5V ~ 4.1V，step 25mV
4.1V ~ 4.575V，step 50mV
精度：±30mV
支持充電和放電 NTC 高低溫保護(hù)
支持芯片級(jí)聯(lián)
斷線檢測功能
超低功耗：
工作模式：25μA
休眠模式：6.0μA
封裝：TSSOP28

應(yīng)用
鋰離子可充電電池組
聚合物可充電電池組
磷酸鐵鋰可充電電池組